Mehrere deutsche Solarhersteller und unabhängige Institute haben einen Test entwickelt, um direkt nach der Modulherstellung den so genannten PID-Effekt zu messen. Potenzial-induzierte Degradation (PID) ist ein Leistungsabfall in einer PV-Anlage, der durch hohe negative Spannungen entstehen kann.

Grundsätzlich kann der PID-Effekt bei allen kristallinen Siliziumsolarzellen auftreten, die in Glas und Folie eingebettet sind. Unter ungünstigen Bedingungen (beschleunigt durch hohe Luftfeuchtigkeit und Temperatur) entstehen Leckströme am Übergang von Modul und Rahmen und sorgen so für Kurzschlüsse, die die Leistung der gesamten Anlage mindern.

 

Bei so genannten Doppelglasmodulen tritt der Effekt vor vornherein in weitaus geringerem Maß in Erscheinung. Auf Anlagenebene lässt er sich vermeiden, wenn die Anlage geerdet ist oder Wechselrichter eingesetzt werden, die keine negativen Spannungen erzeugen. Wirtschaftlicher ist es jedoch, PID auf Modul- oder Zellebene zu verhindern.

 

Die Testbedingungen sehen vor, an Modulen aus laufender Serienproduktion über sieben Tage hinweg eine Spannung von -1.000 V anzulegen. Um exakte Vergleichswerte zu erhalten, werden alle Module mit Alufolie bedeckt und bei konstant 25 Grad Celsius getestet. Ein Modul gilt dann als resistent gegen PID, wenn es in diesem Zeitraum gegenüber der Nennleistung weniger als fünf Prozent Leistung verliert.

Zu dem Firmen-Forschungs-Verbund gehören: Die SCHOTT Solar AG sowie die Herstellerr Q-Cells SE und Solon SE und die unabhängigen Prüflabore Fraunhofer-Institut für Solare Energiesystem (ISE), Photovoltaik-Institut Berlin AG (PI-Berlin), TÜV Rheinland Energie und Umwelt GmbH (TÜV) und VDE Prüf- und Zertifizierungsinstitut GmbH (VDE).